膜材在背光、显示屏、3C 产品等方面应用广泛，彤光电子科技在背光、模组视觉检测市场占有率的情况下，发挥自主研发视觉软件的优势，拓展到上下游材料的外观检测，如扩散膜、导光板、偏光片等薄膜的检测，已经成功在大客户应用。薄膜视觉检测，彤光是终的选择！东莞市彤光电子科技深耕自动化光学检测领域十余载，积淀了浓厚的技术基础，完全独立自主开发的软件获得了业内客户的广泛认可，在显示领域已与国内多家头部企业合作，欢迎咨询了解。彤光模组检测，赋能新智造。

另一个测试好光源的方法是看光源是否对部件的位置敏感度小。当光源放置在摄像头视野的不同区域或不同角度时，结果图像应该不会随之变化。方向性很强的光源，增大了对高亮区域的镜面反射发生的可能性，这不利于后面的特征提取。好的光源需要能够使你需要寻找的特征非常明显，除了是摄像头能够拍摄到部件外，好的光源应该能够产生大的对比度、亮度足够且对部件的位置变化不敏感。光源选择好了，剩下来的工作就容易多了。具体的光源选取方法还在于试验的实践经验。彤光电子是专门从事销售模组检测的企业，需要模组检测的朋友可以来电咨询，我们会竭诚为您服务。

模组检测错判的界定及存有原困、检验错判的界定及存有原困、检验错判的界定及存有原困错判的三种了解及造成缘故能够 分成以下几个方面：1、元器件及点焊原本有产生欠佳的趋向，但处在允收范畴。如元器件原本发生了偏位，但在允收范畴内；该类错判主要是因为预设值设置过严导致的，也可能是其自身处于欠佳与优品规范中间，AOI与MV(人力目检)确定导致的误差，该类错判是能够 根据调节及与MV融洽规范来减少。2、元器件及点焊无不良倾向，但因为DFM设计方案时未考虑到AOI的可测性，而导致AOI判断良是否有一定的难度系数，为确保验出实际效果，将引进一些错判。如焊层设计方案的太窄或过短，模组检测开展检验时较难开展很的判断，此类情况所导致的错判较难清除，除非是改善DFM或舍弃该类元器件的点焊欠佳检验。